在質(zhì)譜分析中，離子化是將中性分子帶上電荷的關(guān)鍵的一步?，F(xiàn)在商用的離子化方法大多依靠直流(DC)高壓在離子源中將樣品分子轉(zhuǎn)化為氣相離子。但是，在電離化過程中，離子的數(shù)量(Q)并不受電壓(V)控制。因此，當(dāng)前所有的離子化方法都沒有實(shí)現(xiàn)對(duì)離子數(shù)量進(jìn)行控制。而且，如果使用傳統(tǒng)高壓電源，絕大部分（99%）的電荷/電流以及離子是浪費(fèi)掉的。因而，目前質(zhì)譜分析在提高靈敏度、樣品利用率以及占空比等發(fā)展方向上具有重大瓶頸。并且，傳統(tǒng)使用的高壓電源具有耗費(fèi)高、難以攜帶、不安全等缺點(diǎn)。

　　固定電荷量的高壓輸出恰好是摩擦納米發(fā)電機(jī)（TENG）的一個(gè)本質(zhì)特性。在佐治亞理工學(xué)院、中國(guó)科學(xué)院北京納米能源與系統(tǒng)研究所王中林和Facundo Fernández共同指導(dǎo)下，李安寅和訾云龍組成了跨院系合作團(tuán)隊(duì)，用TENG驅(qū)動(dòng)離子源，實(shí)現(xiàn)了離子源在電荷數(shù)量、正負(fù)極性、信號(hào)長(zhǎng)短等諸多方面的控制。該工作為質(zhì)譜分析提供了一個(gè)全新的可控參數(shù)，也是納米發(fā)電機(jī)在大型分析儀器應(yīng)用。相關(guān)工作開辟了嶄新的研究和應(yīng)用領(lǐng)域，并于近日發(fā)表于一期的《自然-納米技術(shù)》（Nature Nanotechnology）。
首先，該團(tuán)隊(duì)利用TENG成功實(shí)現(xiàn)了電噴霧離子化和等離子體放電離子化。由TENG提供的固定電荷量對(duì)離子化過程實(shí)現(xiàn)了的控制。該團(tuán)隊(duì)實(shí)現(xiàn)了納庫(kù)精度（nanoColoumb）的可控離子產(chǎn)生，并提出了相關(guān)的物理模型。通過TENG的驅(qū)動(dòng)，離子脈沖的持續(xù)時(shí)間、頻率、帶電性都可以得到有效控制，并實(shí)現(xiàn)了小化的樣品消耗。TENG的微量電荷避免了質(zhì)譜分析中DC高電壓下常見的電暈放電現(xiàn)象，從而實(shí)現(xiàn)了超高電壓（5-9千伏）納電噴霧（nanoESI）。該方法提高在低濃度下的電噴霧離子源的靈敏度，并大化樣品的利用率。TENG驅(qū)動(dòng)的離子化所實(shí)現(xiàn)的質(zhì)譜分析被成功用于檢測(cè)各種有機(jī)小分子和生物大分子，并達(dá)到了可以檢測(cè)到幾百個(gè)分子的靈敏度。TENG驅(qū)動(dòng)的交流離子噴霧還被用于在絕緣表面進(jìn)行沉積離子材料。
該研究對(duì)于質(zhì)譜分析和TENG兩個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展都具有開創(chuàng)性意義。
首先，該研究實(shí)現(xiàn)了離子化過程中電荷數(shù)量的控制，為質(zhì)譜分析帶來了一個(gè)全新的可控參數(shù)，提高了分析精度，提供了分析非常少量樣品的能力，為化學(xué)、生物檢測(cè)的質(zhì)譜方法的瓶頸難題提供了新的可能。并且，使用TENG可以使研究人員將噴霧時(shí)間與質(zhì)譜分析時(shí)間同步起來，實(shí)現(xiàn)樣品的大化利用。
同時(shí)，TENG取代了質(zhì)譜設(shè)備上原有的離子噴霧電源，為小型質(zhì)譜設(shè)備實(shí)現(xiàn)便攜化并在條件下（例如軍事或航天上）應(yīng)用提供了可能。
后，該研究作為一個(gè)將TENG用在設(shè)備儀器中的研究，證實(shí)了TENG作為提供高電壓的一種簡(jiǎn)單、安全而有效的方法，為類似相關(guān)研究提供了思路，為TENG驅(qū)動(dòng)不同儀器和過程從而實(shí)現(xiàn)“可控自驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)”奠定了基礎(chǔ)。